一般講演プログラム

C分野 ハードウェア・アーキテクチャ
 
選奨セッション
MPS・DC・SLDM(A分野と共催)
9月19日(水) 9:30-12:00 1a会場 (C棟C32)
座長 松田 健(長崎県大)
三好健文(イーツリーズ・ジャパン)
CA-001 階層的意思決定手法に基づく教員の希望を考慮した時間割作成法
菅沼雄一・小野景子(龍谷大)・渡邉真也(室蘭工大)
CA-002 遺伝的プログラミングに基づく物体の外枠抽出ルール生成法
上田 凌・小野景子(龍谷大)
CA-003 Selections and Fixed Points of 3M Upper Caratheodory Correspondences
Jing Fu(Fukuoka Inst. of Tech.)・Frank Page(Indiana Univ. Bloomington)
CC-001 安全検証を利用したセキュリティ機能の実現 ―セキュリティと機能安全の両立のために―
金川信康(日立)
CC-002 TSV Placement for Large-size 3D-NoC by Evolutionary Algorithm
Yuting Huang(早大)・Xin Jiang(北九州高専)・Takahiro Watanabe(早大)
 
コンピュータ・システム
9月19日(水) 13:00-15:00 2c会場 (C棟C34)
座長 天野英晴(慶大)
C-001 Redis向けYCSBベンチマーク実行時のFPCによる消費電力削減
馬場裕之(福岡大)・寺﨑雅紀(ティーネットジャパン)・請園智玲・佐藤寿倫(福岡大)
C-002 高位合成を用いた2次元FFT計算回路の作成と検証
佐藤紘将・廣田祐輔・山本洋太・増田信之(東理大)
C-003 組み込みシステム向けホログラフィ専用計算機の開発
山本洋太(千葉大)・増田信之(東理大)・角江 崇・下馬場朋禄・伊藤智義(千葉大)
C-004 動的部分再構成技術を用いた専用計算機システムの開発
廣田祐輔・佐藤紘将・山本洋太・増田信之(東理大)
C-005 高速イメージング用専用計算機の開発
増田信之・廣田祐輔・佐藤紘将・山形健太(東理大)・山本洋太・角江 崇・下馬場朋禄・伊藤智義(千葉大)
C-006 All Flash Array向けデータ圧縮・重複排除機能の性能向上方式
出口 彰・阿部高大・吉原朋宏・吉井義裕(日立)
 
ディペンダブル設計手法
9月20日(木) 9:30-12:00 4c会場 (C棟C34)
座長 勝 康夫(日立)
IC-001 【既発表論文紹介】 Simulation-based Analysis of FF Behavior in Presence of Power Supply Noise
三浦幸也・山本拓弥(Tokyo Metropolitan Univ.)
C-007 ビアオープン故障を考慮した重み付き故障カバレージに関する一考察
小林泰生・岩崎一彦(首都大)
C-008 ネットワークコーディングを用いたマルチパス回避ルーティングに関する一考察
杉浦佑介・酒井和哉・福本 聡(首都大)
C-009 エントロピーを用いて生成したランダムテストの検証
大豆生田利章(群馬高専)
C-010 FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ
三宅庸資・梶原誠司(九工大)
C-011 Rustによる安全なハードウェア設計環境の検討
高野恵輔・小畑正貴(岡山理大)
C-012 Xillybusに付加した真性乱数生成器の予備的評価
岸部仁美・藤枝直輝・市川周一(豊橋技科大)
 
組込みシステム
9月20日(木) 15:30-17:30 5c会場 (C棟C34)
座長 中村啓之(九大)
C-013 大型商業施設におけるQRコードを利用した店員呼び出しシステムの検討
小澤亮太・平山雅之・外山祥平(日大)
C-014 組込み開発向け言語mrubyのFPGAへの実装
前田洋征・田中和明(九工大)
C-015 産業用途向けリング型ネットワークの通信方式
君家一紀・田中宏平・佐藤利光・吉田 実・轟木伸俊(三菱電機)
C-016 マイクロプロセッサアーキテクチャツールMEIMATの開発 -汎用命令の提案-
榎本 崇・花井北斗・鈴木祐一郎・佐野友輝(明大)・森本智之(明大/ヴィアックス)・堤 利幸(明大)
C-017 Approximately Quantizing Algorithm for In-memory Machine Learning Classifier
カテイ セキ・鶴 隆介・山内寛行(Fukuoka Inst. of Tech.)
 
システムとLSIの設計技術
9月21日(金) 9:30-12:00 6c会場 (C棟C34)
座長 小出哲士(広島大)
IC-002 【既発表論文紹介】 Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption
章 御聡・Stefan Holst・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司(九工大)・銭  軍(Advanced Micro Devices)
IC-003 【既発表論文紹介】 The Impact of Production Defects on the Soft-Error Tolerance of Hardened Latches
Stefan Holst・馬 瑞軍・温 暁青(九工大)
C-018 パーシャルスキャン設計を用いたkサイクルキャプチャテストのためのコントローラ拡大法
石山悠太・細川利典・山崎紘史(日大)
C-019 誤り追跡入力の追加生成に基づく論理診断処理の効率化
大村祥吾・竹崎彩乃・廣瀬哲也・黒木修隆・沼 昌宏(神戸大)
C-020 CNNハードウェアにおけるDRAMアクセス量削減手法
古川 巧・望月香那・黒田幸作・廣瀬哲也・黒木修隆・沼 昌宏(神戸大)
C-021 4CH出力CNNを用いた超解像処理のハードウェア化
鈴木洸陽・澤井剛史・廣瀬哲也・黒木修隆・沼 昌宏(神戸大)
C-022 論理再合成における遅延時間抑制に有効なRECONスペアセルの概略配置手法
明石淳平・澤井剛史・廣瀬哲也・黒木修隆・沼 昌宏(神戸大)