IC-002
Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption

◎章　御聡・Stefan Holst・宮瀬紘平・温　暁青・梶原誠司（九工大）・銭　　軍（Advanced Micro Devices）

スキャンテストのシフトモードにおいて多くのスキャンフリップ・フロップが同時に動作する。このシフトにおける瞬時スイッチング動作は、 過度のIRドロップを引き起こし、一部のフリップ・フロップにおいてテスト入力やテスト応答のデータを破損させる危険性がある。その対策として、スキャンフリップ・フロップを複数のスキャンチェーンに組み込み、同時に一部のスキャンチェーンしか動作させない方式がよく用いられる。本研究では、瞬間的なIRドロップによるテストデータ破損の可能性を最小化するためのスキャンチェーン最適グループ化アルゴリズムを提案し、大規模ITC'99ベンチマーク回路を用いた評価実験でその有効性を示す。