抄録
IC-001
Simulation-based Analysis of FF Behavior in Presence of Power Supply Noise
三浦幸也・山本拓弥(Tokyo Metropolitan Univ.)
半導体デバイスの微細化,低電圧化により電源ノイズが回路動作に影響を与えることが問題になっている.特にメモリ素子(SRAM)ではビット反転の誤動作(エラー)が発生することが知られている.今後更にデバイスの微細化か進むとSRAMと同様の回路構造を持つフリップフロップ(FF)でも電源ノイズの影響が顕著になる可能性がある.本論文ではFFにおいても電源ノイズによるSRAMと同様もしくは他の誤動作の発生の有無を解析した.その結果,ビット反転エラーおよびキャプチャエラーが発生するとこを確認した.またその発生原因を解明し,誤動作対策方法を提案する.