近年，半導体デバイスの微細化に伴い，宇宙線によるソフトエラーの発生率（以下，「SER」）は増加傾向にある．ソフトエラーはシステム停止などを引き起こす可能性があるため，高い信頼性が要求される機器の設計では，SERを考慮することが望ましい．設計段階で簡易的にSERを評価する方法として，ITU-Tは「構成部品のSERを合計することで機器のSERを予測する方式（従来方式）」を提案している．しかし，①部品のSER情報不足や②部品にソフトエラー対策技術を適用するケースでのSERの予測は考慮されていない．
本稿では従来方式を拡張し，①②のケースにおいても組込機器のSERを予測可能とする方式を提案する．