半透明物体に入射した光は，内部での散乱を経て，経路長の違いから時間的な広がりを伴って表面から再出射する．この時間的な遅延は物体内部の光路長に依存するため，その遅延を計測することにより物体の厚さ等の内部構造を推定可能である．しかし，この時間差は極めて微小であり，従来のフレームカメラでは時間分解能の不足により観測が困難であった．そこで本稿では、輝度変化を非同期かつ高時間分解能で取得可能なイベントカメラに着目する．取得したイベント情報から各画素における輝度変化の過渡応答を解析し，光路長差に起因する遅延時間を検出する．実験により，この遅延解析が半透明物体の厚さ推定に有効であることを示す．