情報処理学会 第87回全国大会

1W-07
廃電子基板を対象とした画像類似度判定の高精度化に関する検討
○大石 稜,白井 光,景山陽一,川村 茂(秋田大),佐々木一音(DOWAテクノロジー),小川啓太,中川原聡(DOWAメタルマイン)
非鉄金属製錬所では,廃電子基板をリサイクルして貴金属の回収を行っている.具体的には,過去に取り扱った基板と,測定対象の基板との類似性を判定し,基板の分類および処理方法の決定を行っている.この類似度判定は現在,作業員の目視判断により行われており,大きな負担となっている.そのため,画像処理技術を用いて類似度判定を自動化することは,処理コストの削減,およびヒューマンエラーの防止に寄与すると考える.本研究では, 画像特徴量としてICの個数を新たに追加し,類似度判定の精度向上に関して検討を行った.解析の結果,ICの個数と金含有比率との間に一定の相関が見られ,この相関を利用することで,判定精度が向上することを示した.