情報処理学会 第86回全国大会 会期:2024年3月15日~17日

5K-04
拡張状態遷移図からの長さ制限をもつテストシナリオ生成手法
○牧野 悟,中島 毅(芝浦工大)
状態遷移図/表は設計やテストの際に広く利用されるが、状態遷移図/表は扱うソフトウェアが大規模になるにつれ、記述や理解が困難になるという課題がある。この課題を解決するため拡張状態遷移図を用いて状態遷移テストを行うことができればよいのではないかと考えた。先行研究として、Wp法と呼ばれる、階層性や並列性を持つ状態遷移図を用いて状態遷移テストを行うことができる手法がある。しかし大規模なソフトウェアに対して適用するとテストケース数と長さが大きくなりすぎて実用的でないという課題がある。本研究では、生成されるテストケースを事前に指定された長さに制限することでこれらの課題を克服した手法の提案と実装を行う。