量子アニーリングが注目されており，その中でも疑似量子アニーラのサービスが展開されている．一方で、サポートベクターマシン（SVM）は広くクラス分類に使われているが，疑似量子アニーラでの評価は十分でない．
そこで本研究では，疑似量子アニーラの一つであるCMOSアニーリングマシンでSVMにより誤差を有するクラス分類を行い，その性能を評価する．
性能評価では2値分類問題における正解率を評価対象とし，訓練データの誤差の割合ごとに，従来のCPUにおけるSVMとCMOSアニーリングマシンにおけるSVMを比較する．