半導体のソフトウェアエラーの原因の一つは、宇宙線起因の中性子である。このソフトエラーは、今後の大規模データセンタ増加や半導体微細化に伴い、より深刻な影響を与えると予想される。本研究では、ソフトエラーのより効率的な低減方法を探るために、次の2段階の探究方策を取る。第1に汎用中性子モニターを使って、実環境での宇宙線起因の中性子を測定し、この結果を放射線遮蔽シミュレータと比較することで、環境中性子自体の理解を試みた。第2にこの理解の上に立って、今後の大規模データセンタで要求されるより低レベルのソフトエラーの更なる頻度低減の方法を、改善し最適化することが可能であることを示し、具体的な提案を行った。