情報処理学会 第82回全国大会 会期:2020年3月5日~7日 会場:金沢工業大学 扇が丘キャンパス 情報処理学会 第82回全国大会 会期:2020年3月5日~7日 会場:金沢工業大学 扇が丘キャンパス

7L-05
層化抽出法を用いた1対全ノードに対するs-t信頼性推定の高速化
○柳澤隼也,塩川浩昭(筑波大)
s-t信頼性は不確実グラフにおいて2ノード間の接続確率を評価する重要な指標のひとつである.s-t信頼性の計算は♯P困難であるため, 近似解を計算する手法が提案されている.しかし,不確実グラフにおいてクラスタリングなどの分析処理では,1対全ノードに対するs-t信頼性計算を繰り返し実行する必要がある.この処理は,既存の近似的な計算手法では,計算コストが膨大となり,大規模な不確実グラフを分析することが難しい.そこで本研究では,1対全ノードに対する高速なs-t信頼性推定手法を提案する. 提案手法では層化抽出法とサンプル間の処理共有に基づくs-t信頼性推定手法を統合する.これにより,高速・高精度に1対全ノードに対するs-t信頼性を推定する.