情報処理学会 第82回全国大会 会期:2020年3月5日~7日 会場:金沢工業大学 扇が丘キャンパス 情報処理学会 第82回全国大会 会期:2020年3月5日~7日 会場:金沢工業大学 扇が丘キャンパス

4J-07
複数のクロック信号源における相対的なクロック特性の高精度な観測
○高井淳光,干川尚人(小山高専),下馬場朋禄,伊藤智義(千葉大)
IoT機器を用いたサービスでは,利用する機器が公の場に設置されている可能性がある.そのため悪意のある人物による機器のすり替え,不正利用のリスクが高まるため,これに対応する機器識別技術が求められている.そこで我々は機器が持つ半導体チップの生成するクロック特性をネットワーク上の基準装置の特性と比較することで識別する手法を提案している.しかし,この手法では基準装置に高精度な時刻情報の提供能力が必須となることが課題である.そこで,新たに単一コンピュータ上の複数クロック間における相対的な特性を特徴量とする手法を提案する.本稿では精度良く特性を取出すためカーネル空間で計測を行い,その有効性について論じる.