情報処理学会 第82回全国大会 会期:2020年3月5日~7日 会場:金沢工業大学 扇が丘キャンパス 情報処理学会 第82回全国大会 会期:2020年3月5日~7日 会場:金沢工業大学 扇が丘キャンパス

1U-03
中央領域に注目する Center Attention による頑健性の高い植物病害診断装置の構築
○澁谷将吾,鍵和田聡(法大),宇賀博之(埼玉県農業技術研究センター),彌冨 仁(法大)
農作物への被害が多く確認されている植物病害の発生に対して,深層学習を用いた自動診断システムが複数提案されている.これらの研究では高い識別精度が達成されている一方、葉などの解析対象ではなく背景を過学習してしまい,異なる圃場で撮影された画像に対して精度が大幅に低下するという問題がある.本報告では診断したい葉が画像の中央にある傾向に着目して,深層学習の注目を中央によせる Center Attention を提案する.背景情報に左右されにくい深層識別器を構築し,実際の圃場で撮影された多数の画像を対象に、予測精度の向上および予測根拠提示の改善を検証した.