情報処理学会 第81回全国大会講演要旨

本稿では，ハイパースペクトルイメージングにより，半透明物体表面の外観検査を行う手法を提案する．半透明物体においては，入射位置と同じ位置から出射する反射光だけでなく，一般に入射位置とは異なる位置から出射する表面下散乱光も観察される．そのため，半透明物体表面上のある点の状態を検査する際に，その周囲の点への入射光による表面下散乱光は外乱となる．そこで提案手法では，プロジェクタ-カメラシステムによる高周波パターン光投影に基づいて，表面下散乱光の影響を除去したうえで推定した分光反射率を特徴として，表面に付着した異物などを検出する．実画像を用いた実験により，表面下散乱を考慮した提案手法の有効性を示す．