情報処理学会 第81回全国大会講演要旨

光沢の強い金属を対象にしたアクティブステレオ法は，相互反射の影響を強く受けるため正しく3次元形状を計測することが困難である．相互反射を取り除く手法としてEpiscanがあるが，全ての相互反射を取り除くことはできない．一方，偏光を用いることでも相互反射を取り除けるが，これも全ての相互反射を取り除くことができない．本研究ではEpiscanと偏光を併用した偏光Episcanを用いることで，相互反射を抑制して金属の3次元形状測定ができることを示す．