5W-01
悪意のあるデバイスBadUSBによる攻撃のリスク調査
○山本拓巳，菊池浩明（明大）
Black Hat USA 2014で発表された不正なUSBデバイスBadUSBの脅威を,いくつかのデバイスを実装し,実験とアンケートから明らかにしていく.本実験ではArduinoを用いて4つの挙動をするBadUSBを実装し,振る舞いを秘匿して被験者に与え,どのような挙動をしているのか推測させる.その回答までの時間,正答率,実験後のアンケートを実施し,各BadUSBデバイスの脅威度を評価する.さらに被験者のセキュリティ志向度調査(SeBIS)に基づき,不正デバイスの影響を受けやすい特性を考察する.これらのデータからこの様なデバイスを用いた攻撃が成功する確率や影響の大きさを明らかにする.
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