抄録
I-011
圧縮と切り取りに耐性を持つ電子透かしの性能評価
◎高塚雅広・梶原正明・平川 豊・大関和夫（芝浦工大）
以前提案した手法では, 圧縮と切り取りの両方へ耐性を持つことが確認された. しかし, 画質の劣化が大きく, 電子透かしの埋め込みを目視で検知されてしまうレベルでの劣化が起きた. 本研究では, 従来のパラメータに加え, 固定であったブロックサイズを変更し, 圧縮耐性, 切り取り耐性, 画質の３項目について調査する. それにより, 本手法の詳細な性能を評価し, 電子透かしに求められる要件に合わせた, パラメータの決定を行うことを可能する.
