抄録

◎吉成朝雄・荻原帆斗・松埜　智・浅川　毅（東海大）

近年の回路技術や製造技術の進歩により，LSIは高速化の一途をたどっている．これらのLSIをテストするLSIテスタには，より高速な動作テストの機能が要求される．しかし，LSIテスタは非常に高価なため，LSIの高速化とともに容易に買い換えるのは困難である．また，LSIテスタ導入に伴うコストの増大は製品価格の増加の要因ともなっている．同様にLSIを使用するアセンブリメーカでも受け入れテストを行う際の課題となっている．そこで我々は，受け入れテストに多く用いられているLSIの機能テストに着目し高速プロセッサの開発を行なった．本論では，高速プロセッサの概要とFPGAへの実装評価について報告する．