◎古本　圭・吉川祐樹（呉高専）

本研究では，ブロードサイドテストにおけるパス遅延故障の過剰テスト削減を目的としたテストパタン生成法を提案する．パス遅延故障に対するテストは，回路の微小遅延を検出できる高品質なテストである．ただし，パス遅延故障には機能的冗長故障が多く存在する．そのため過剰テストの削減は重要な課題である．