◎小河　亮・岩田大志・山口賢一（奈良高専）

VLSIの熱破壊や過剰テストを防ぐために出荷テスト時の電力を適切に設定する必要がある．本稿ではDeterministic Circular Self Test Path(DCSTP)を適用した回路に対して適切な電力負荷でテストできる手法を提案する．DCSTPはクロック毎にテストできる手法であり，スキャン動作を伴わないテスト手法である．提案手法では，DCSTPによって制御可能になったFFがクロック毎に反転する数をしきい値以下となるように操作することで，回路全体の信号値の遷移を制限し消費電力を制御する．実験ではしきい値の設定に従った消費電力でテストできる手法であることを示した．