○キエツ ウ・田口　亮（名工大）・保黒政大（中部大）・堀米秀嘉（ホーリーマイン）・梅崎太造（名工大）

近年，三次元テレビなどの三次元形状出力デバイスの普及及び工業製品の精密検査の増加に伴い，三次元形状計測のニーズが高い．しかし，既存三次元計測手法の多くは計測誤差が大きく，透明と全反射物体に対する計測も困難である．本研究では，干渉原理及びフレネル回折理論を利用し，ワンショットの位相シフトデジタルホログラフィの光学システムを構築することで，透明物体と全反射物体が計測できる高精度の三次元計測システムを提案する．