◎鈴木彬史・小川純司（日立）

NAND FM (以下FM)のデータ保持能力は、メモリセルの書き換え回数と書き換え間隔に依存して低下する。このため、データ保持能力の調査は、実利用条件の書き換え間隔を模擬する必要があり、この劣化試験は年単位の期間が必要となる。しかし、FMを早期に製品適用するには、FM劣化後のデータ保持能力に基づいて必要な訂正回路の規模やデータ保護制御を定め、短期間で劣化の影響を定量化する必要がある。
本研究は、①書き換え間隔、②データ保持期間、③品質ばらつき、の条件から障害bit率を予測するモデルを述べる。このモデルにより、短期実験の結果より実利用条件下でのFMのデータ損失確率が推定可能となる。