2B-4
試験時に発生した異常に対応する試験方式
○大塚 亮,後沢 忍,永嶋規充,川崎将人(三菱)
試験系システムを実際のシステムと同時に稼働させ、実際のシステム
から通信データをキャプチャし、試験系システムで再生して試験を行
なう場合、実際のシステムと試験系システムで異常が発生した場合、
以降の試験を継続できないという課題があった。そこで、この課題を
解決するために、発生した異常を制御することによって、実際のシス
テムと試験系システムとの状態を同等にし、異常発生後も試験を継続
できる試験方式を考案した。