一般講演〔3E会場〕（10月4日（水）13：30〜15：30）
LSI設計・テスト技術
座長 若林真一（広島大）
1 2重縮退故障のテスト生成法
○高橋直子、樋上喜信、高松雄三（愛媛大）
2 論理回路のニュートラルネットワーク表現による故障診断
○押田 尚、巽 久行、徳増眞司（神奈川工大）
3 ネットリストの再帰的分割による論理回路図の生成手法
○渡辺健悟、新井浩志（千葉工大）
4 論理回路の作図支援システムの研究
○宮島晃彦、石原孝一郎、近藤秀文（拓大）
5 論理合成後のクリティカルパス改善手法の構築
○前田 寿、橋田闘志（NECエンジニアリング）、山本孝司、津口公一（NECソフトウェア北陸）
6 概略配線、バッファ挿入、タイミング制約を考慮したフロアプランニング手法
○中矢真吾、若林真一（広島大）、小出哲士（東大）
7 再構成可能デバイスRHW向けレイアウト手法の実装と評価
○山内 宗、中谷正吾、犬尾 武、梶原信樹（RWCP）
8 ゲーム論的アプローチによる角形ブロック配置問題の解法
○前田直樹、大蔵一成、巽 久行、徳増眞司（神奈川工大）
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