情報処理学会 第79回全国大会 会期:2017年3月16日~18日 会場:名古屋大学 東山キャンパス 情報処理学会 第79回全国大会 会期:2017年3月16日~18日 会場:名古屋大学 東山キャンパス
招待講演(3)
Bonghee HONG(Pusan National University Full Professor / KIISE President)
Looking for Image Big Data Intelligence for Disaster Management and Product Defect Detection

日時:3月16日(木)17:40-18:10
会場:第1イベント会場(坂田平田ホール)

【講演概要】By analyzing CCTV images from road sided Cameras, it is possible to automatically extract image pattern graph from a huge volume of CCTV images. From the analytics and learning of image pattern graphs, the amount of rainfall would be roughly measured and also the river flooding could be automatically detected and expected. The techniques of image data analytics can be applied to detect the defects of injection molding products.

【略歴】Seoul National University, BS/MS/Ph.D.