情報処理学会 第78回全国大会講演要旨

近年、ソフトウェアは大規模・複雑化しており、信頼性確保のためテストはより一層重要な過程となっている。テストにかけられるリソースは基本的に限られているためテストの効率化が求められている。効率化を支援する技術としてFault-Prone（FP）モジュール予測技法がある。単体テストのレベルではFPモジュール予測の結果を用いてテスト戦略を立てることは比較的容易であるが、上位テスト（結合テスト、システムテスト）ではフィーチャ単位で行われることが多く、この場合、重点的にテストすべきフィーチャの明確化すなわち「FPフィーチャ予測」を行うのが望ましい。本研究ではFPモジュール予測の結果を用いた上位テスト手法をいくつか提案し、比較検証した。