情報処理学会 第76回全国大会講演要旨

VLSI故障診断用のテストパターンを生成する手法としてD-algorithmを改良したPODEMなどが存在するが、backtrackの問題が完全には解決されておらず、結果として非常に時間のかかる処理を強いられている。そこで、原理的にbacktrackが生じない実数値論理シミュレーションを用いた手法を提案する。乱数を用いてprimary inputに初期値を与えるが、テストパターン生成の計算の手間はこの初期値に依存する。並列計算機を用いて効率的にテストパターン生成を行っている。