5B-2
仕様書分析によるAll Pair法の水準データ抽出法
○増田　聡（日本IBM），松尾谷徹（デバッグ工学研），津田和彦（筑波大）
抜け漏れの少ないテストケースを作成することは，機能を検証する上で重要である．現在，その作業の多くは人手で行われており，抜け漏れが少ないテストケースを作成することは，個人のスキルに依存している部分が大きい．本論文では，ドキュメント分析ツールを仕様書分析に活用し，テストケースの因子を抽出する．さらに，境界値分析や障害分析などの結果を予め適用した水準データ抽出を行う．それらの情報をAll Pair法の入力データとすることで，より抜け漏れの少ないテストケース作成を効率的に行う方法を提案する．本手法を適用した結果，作業効率が約2倍に向上した事例を紹介する．
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