情報処理学会 第75回全国大会講演要旨

クロックゲーティングはCMOS LSIの低電力化技術として一般的に使われているが、クロック信号を停止することでPMOSとNMOSのアンバランスな経時劣化をもたらす。本稿ではクロックゲーティングに関する信頼性問題として、クロックスキューに焦点を絞り、クロック分配や停止条件等によるスキューへの影響を明示し、その対策を示す。