情報処理学会 第75回全国大会講演要旨

再利用性が高いRAM診断の実現方式を提案する。本方式を適用することで、CPUの変更に伴う開発があったとしても既存のRAM診断の再利用が可能となり、基板の再開発コストを抑えることができる。これにより、開発工程が短くなり、製品の早期市場投入が可能となる。