RC-003
２パタンテスト可能な演算ペアに基づく遅延テストのためのスケジューリング法

◎中谷夏主政・吉川祐樹（呉高専）

近年，製造プロセスの微細化によってVLSIの動作速度や性能は向上している．しかしその一方で，回路の信号伝播の遅れがタイミング不良を引き起こすことも多く，遅延故障による欠陥が問題となっている．このような欠陥を検出するために遅延故障のテストは重要な課題である．本論文では遅延故障のテスト容易性を設計の上位段階であるスケジュールから考慮した手法を提案する．