C-023
短周期テストパタンによる高速オンライン遅延測定

○加藤健太郎（鶴岡工業高専）

本論文では短周期テストパタンを用いた高速オンライン遅延時間測定法を提案する.提案法では可変クロックを用いたオンライン時の遅延時間測定に要する測定パスの連続活性化の周期を短周期パタンを用いることにより短縮する.また部分ローテートスキャンを用いることにより短周期パタンのオンチップでの印加を行う.これによりオンラインでの測定パスの短周期での連続活性化が実現され,従来のスキャンパタンでの測定と比較して,その測定時間を短縮することができる.評価実験により，測定時間がスキャンベースの手法の1.11%，また実装による面積オーバヘッドは平均で7.90%となることを確認した.