C-020
自由度のあるタイミング生成を実現するＬＳＩテストシステムに関する研究

◎手塚雄大・柴田　翔・竹林祐紀・土屋秀和・浅川　毅（東海大）

ＬＳＩには個体差が存在するため、品質の高いＬＳＩ組み込み製品を作る際には受け入れテストを行い、特性ばらつきを抑える必要がある。受け入れテストでは、ＬＳＩテスタを使う場合もあるが非常に高価であるため導入できる企業は限られる。一般には汎用の測定器を組み合わせてテストしているが、高品質なテストを行うことは難しい。そこで本研究ではＦＰＧＡを用いて、テスト波形生成にシステムクロックと動的可変の遅延クロックを組み合わせることにより、安価かつタイミング的に自由度のあるテストシステムを実現する。本稿では、開発したシステムをシミュレーション評価し、その結果について論ずる。