C-019
ＦＰＧＡを用いたＬＳＩのＤＣテストに関する研究

◎高木貴弘・土屋秀和・浅川　毅（東海大）

ＬＳＩの集積度の発達は、近年の半導体技術に基づき進化を続けている。製造されたＬＳＩのテストを行うためにはＬＳＩテスタの発展も同様に必要不可欠である。しかし、ＬＳＩテスタは非常に高価であり、ＬＳＩの発展に合わせて機器を更新していくことはコストがかかり現実的ではない。そのため本研究ではＬＳＩテスタのＤＣ項目のテストに注目した。ＬＳＩテスタとして使用することが出来る、類似の機能を持った新しい低コストシステムを提案する。本研究のシステムの実現にはＦＰＧＡを使用し、ＦＰＧＡ内部に組み込みプロセッサを組み込むことで柔軟なテストを行うことが可能となっている。