C-017
ホログラムメモリの放射線耐性試験

○伊藤芳純・渡邊　実（静岡大）・荻原昭文（神戸市立高専）

光再構成型ゲートアレイ向けホログラムメモリの放射線耐性試験の結果について報告する。