FIT2015第14回情報科学技術フォーラム 開催日:2015年9月15日(火)~17日(木) 会場:愛媛大学城北キャンパス
抄録
K-047
スケーリング攻撃に対するSIFTに基づく電子透かし法の評価
内田洸太・川村正樹(山口大)
電子透かしでは,画像が拡大縮小された場合でも正確な透かしの推定が求められる.そのため,拡大縮小に対して不変なSIFT特徴点を基
に透かしを埋め込む方法を取り上げる.魏らの手法は,SIFT特徴点を基にDCT領域に透かしを埋め込むことで,良好な耐性を得ている.魏らの手法は,抽出した透かしと元の透かしの相関をとり,透かしの有無を判定する.しかしながら,受信者へ任意のメッセージを送信することができない.そこで,本手法では,メッセージを透かしとして埋め込む場合を考える.特徴領域に透かしが埋め込まれているかを判別するために,メッセージとともにマーカーを埋め込む.本手法のスケーリング耐性を評価した.