FIT2015第14回情報科学技術フォーラム 開催日:2015年9月15日(火)~17日(木) 会場:愛媛大学城北キャンパス
抄録
C-020
組込み自己診断におけるテストパターン系列の診断能力に関して
宮本夏規・村上陽紀・王森レイ・樋上喜信・高橋 寛(愛媛大)・大竹哲史(大分大)
コンピュータの機能によって自動車などの制御を安全に行うことが望まれている.最近,自動車の機能安全レベルを向上させるために車載マイコンなどの集積回路における「組込み自己診断(BISD)」の開発が進んでいる.本研究では,応答署名に基づくBISDにおけるテストパターン系列の診断能力に関して考察する.まず,BISD機構を提案し,そのシミュレーションモデルを提案する.つぎに,提案するシミュレーションモデルを利用して,テストパターン系列の診断能力を評価する.さらに,BISDにおける診断能力を向上させるために,テスト生成回路におけるランダムパターン発生回路の初期値を再設定する(リシード)に適したシードの選択法を検討する.