FIT2015第14回情報科学技術フォーラム 開催日:2015年9月15日(火)~17日(木) 会場:愛媛大学城北キャンパス
抄録
C-018
BIST環境下におけるメルセンヌ・ツイスタアルゴリズムの評価
吉田拓弥(奈良高専)・里中沙矢香(奈良先端大)・山口賢一・岩田大志(奈良高専)
高信頼性かつ低コストな出荷テストを行うために,BISTではテストパターン生成器としてLFSRが広く用いられている.しかしLFSRでは順序回路に対して十分な故障検出率が得られない場合がある.本研究ではLFSRに代わり,メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムをテストパターン生成器として用いることを提案する.メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムは乱数性が良く周期が長いという特徴を持つ擬似乱数生成アルゴリズムである.同時に,STUMPSアーキテクチャでテストを実現した際の故障検出率を評価した.実験の結果,メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムはLFSRと比べ高い故障検出率を達成し,許容可能な面積増加で実装できることがわかった.