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FIT2013第12回情報科学技術フォーラム 開催日:2013年9月4日(水)~6日(金) 会場:鳥取大学鳥取キャンパス
抄録
H-056
SIFT特徴量の類似性を用いた繰返しパターン検出
藤原佳大・岡本拓也・近藤克哉(鳥取大)
物体認識を行う際,物体を様々な方向から撮影した画像を学習画像として用意し,SIFTやSURFなどの局所特徴量を用いて,学習画像との対応点を取り認識を行う.しかし,認識したい物体に繰返しパターンが含まれている場合,繰返しパターンの特徴量が類似しているため誤認識が起きることがある.そこで本報告では,繰返しパターンの特徴量の類似性を利用し,繰返しパターンに基づく特徴点を検出する手法を提案する.特徴点同士の類似性を,コサイン類似度を用いて測定し,画像によって異なる最適な類似度を求め,繰り返しパターンの特徴点を検出する.