5R-7
電子部品におけるリードの検出
○安田善樹，服部公央亮，鬼頭秀一郎，田口　亮，保黒政大，梅崎太造（名工大）
　工業製品の生産において，品質管理を目的とした不良検査は必須である．
電子回路基板の生産ではチップマウンタによる高速大量生産に対応するため，画像処理技術を用いた自動検査システムが用いられている．
現在の検査システムは，事前に作成した電子部品の形状データと実装しようとしている電子部品とを比較することで良否判定を行う．
形状データは部品毎に必要なため，その作成には大きなコストがかかる．
形状データの作成においても自動化が進められているが，リードの検出率が低いため，人手によるデータの入力が避けられない．
そこで本稿では，まずAdaBoostにより画像中からリード候補の検出を行い，その後，フィルタにより真のリードを検出する2段階の手法を提案する．