2U-3
並列実装による遺伝的アルゴリズムの耐故障性向上
○北　咲也，佐藤裕二（法大）
　過渡的障害の発生し得る環境において遺伝的アルゴリズムを
実行することを想定し，並列化手法を適用することによって
過渡的障害による探索性能の低下を防ぐ，即ち耐障害性を
向上させる可能性について論じる．