情報処理学会 第74回全国大会講演要旨

本稿では、短い処理過程かつ低価格な電子基板の挿入もれを検査する
システムを考える。基板の認識は、全ての部品がついた良品基板と
挿入もれのある検査基板の差分をとることで行う。しかし、比較する
2枚の画像は座標合わせなどの前処理を行っても、位置によって傾向
の異なるピクセル単位でのずれが生じ、対応点が一致しないため通常
差分で認識が困難である。このため、画像を適切な範囲で区切り、
画素のずれの傾向を区間ごとに設定して差分処理を行う手法を提案
した。ずれの傾向は対応点の近傍画素を調査し、ファジィ理論を応用
して柔軟に設定する。実験結果は、通常の差分結果と比較して、区間
ごとにずれの傾向を設定した差分結果の有効性を確認することができた。