抄録
A-006
検査行列の構造を利用したLDPC符号のパンクチャ法に関する一考察
長田佳史・細谷 剛・後藤正幸(早大)
符号化率を可変とする低密度パリティ検査(LDPC)符号を構成するための効果的なパンクチャドビットの選択法として,J.Haらの手法がある.しかしこの手法では,優れた復号性能を示すが高い符号化率までパンクチャできないという課題があった.そこで,著者らは検査行列の構造を利用し復元レベルに関する評価関数を導入することで,復号性能をなるべく劣化させずに高い符号化率まで実現可能なパンクチャドビットの選択法を提案している.本研究では,計算機シミュレーションによる実験結果から,この選択法により構成された符号の復号性能について様々な視点から評価を行い,性能の差異について考察を与える.